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      計量學
      
                    
      
                        
      2024-12-03 13:41:40
      
                        
      虹漸光電
      
                        
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      用于細胞篩選的可靠而精準的自動化成像技術(shù)
      

      基于顯微鏡的計量依賴于高性能的移動裝置和高質(zhì)量的光學儀器。部件的特征描述和測量對生產(chǎn)至關(guān)重要，根據(jù)顯微鏡的不同，可以通過多種方式進行。
      

      基于對比度的信息可用于根據(jù)焦點確定形貌。閉環(huán)平臺運動有助于精準確定物體的相對橫向位置。高端顯微鏡技術(shù)，如原子力顯微鏡，可以在高分辨率條件下應用這些原理，甚至可以進行皮米級的精準測量。
      

      誤差分析及合規(guī)性
      

      計量學可確定是否符合工業(yè)標準或設計規(guī)范。如果偏離其中之一，則可將樣品歸類為正確樣品，或提供發(fā)生錯誤的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。計量顯微鏡可進行各種測量，包括：
      

      表面分析：使用原子力顯微鏡或電子顯微鏡可以測量亞納米級的粗糙度和波紋度，使用共聚焦顯微鏡或白光干涉儀結(jié)合高性能顯微鏡自動化系統(tǒng)可以測量低納米級的粗糙度和波紋度。
      

      3D 測量：使用傳統(tǒng)顯微鏡光學元件結(jié)合自動化技術(shù)可以生成低微米分辨率物體的形貌輪廓，并通過 AFM、電子顯微鏡或其他方法獲得高分辨率。
      

      特征識別：在較低分辨率下，成像方法會對測量質(zhì)量產(chǎn)生很大影響。暗場照明或微分干涉對比 （DIC） 可用于識別使用標準明場顯微鏡不易識別的特定特征。
      

      來自顯微鏡專家的閉環(huán)自動化
      

      我們在制造顯微鏡自動化組件方面擁有 30 多年的經(jīng)驗，從傳統(tǒng)的復合顯微鏡增強功能到市場領(lǐng)先的納米定位技術(shù)。 高質(zhì)量的線性編碼和廣泛的測試程序確保我們的 ProScan III 載物臺系統(tǒng)的性能符合亞微米分辨率顯微鏡所需的標準。 我們的 Queensgate 納米定位技術(shù)以電容式傳感器和低噪聲電子設備為基礎(chǔ)，可實現(xiàn)皮米級測量。我們的產(chǎn)品（如 NPS-XY-100A）已被證明是 AFM 等高端顯微鏡技術(shù)的補充。 
      

      主要特點
      

       高線性度：0.005% （NPS-XY-100A）
      

      高速：1.4 ms 步進整定時間 （NPS-X-15A）
      

      閉環(huán)定位：±0.7 μm 全行程重復性 （FB203E） 
      
                    
      
                    
                
      
            
      
        
      
    
      
    
      
    

      

      
    
      
    
      產(chǎn)品中心
      

      

      
    
      
        
        
      
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